DLS 奈米雷射粒徑分析儀
動態光雷射粒徑分析儀為目前量測奈米顆粒最為常見的分析方法之一，量測前置備簡易，量測快速，又能解決SEM為人詬病的取樣與聚集問題。
奈米粒徑電位分析儀 (DLS)
Winner901為奈米粒徑與界達電位雙分析技術的產品。
量測範圍為1nm ~ 10,000nm / -500 ~ + 500mV，適用於各種奈米級、亞微米級固體顆粒與乳液樣品的測試。
量測範圍為1nm ~ 10,000nm / -500 ~ + 500mV，適用於各種奈米級、亞微米級固體顆粒與乳液樣品的測試。
奈米雷射粒徑分析儀 (DLS)
DLS基礎原理為奈米顆粒特有的布朗運動，藉由大小顆粒泳動速度不同，解析擴散係數，進而求得水利直徑。
Winner803測範圍為1nm~10,000nm，適用於各種奈米級、亞微米級固體顆粒與乳液樣品的測試。
Winner803測範圍為1nm~10,000nm，適用於各種奈米級、亞微米級固體顆粒與乳液樣品的測試。