• 奈米粒徑電位分析儀 (DLS)

奈米粒徑電位分析儀 (DLS)

Winner901為奈米粒徑與界達電位雙分析技術的產品。
量測範圍為1nm ~ 10,000nm / -500 ~ + 500mV,適用於各種奈米級、亞微米級固體顆粒與乳液樣品的測試。
型號 : Winner 901

Winner 901 奈米粒徑與介達電位分析儀是2024年推出的一款新型產品,同時具備zeta電位和奈米粒徑雙重測試能力的動態光散射粒度儀。 Winner 901使用電泳光散射技術測定zeta電位、求等電位點。此外,對於配方(溶劑)是否能夠使顆粒穩定分散懸浮,Zeta電位的測定是重要的輔助工具。

儀器結構圖:

雷射光經由傅立葉鏡聚焦於分析樣品槽,偵測器於90度角觀察樣品訊號,降低散射干擾訊號以觀察粒子泳動進而分析粒子尺寸。

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量測原理(Size):

利用動態光散射原理與光子相關光譜技術,根據粒子的布朗運動速度,基於不同大小粒子的運動速度不同,當雷射照射這些粒子時,會使散射光發生不同速度的波動。光相關光譜法將根據光子在特定方向的波動下降梯度來分析出粒子尺寸。

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量測原理(Zeta potential):

採用電泳-光散射原理及光子相關光譜技術,根據顆粒在液體中的電泳運動速度測定顆粒Zeta電位的大小。顆粒在儀器施加的電場中進行電泳,經由雷射照射這些顆粒,觀察散射光的都卜勒遷移狀態。光子相關光譜法根據遷移量分析顆粒Zeta電位的正負值與大小。


報告格式:

        


規格型號

Winner 901

執行標準

GB/T 19627-2005/ISO 133211996

GB/T 29022-2012/ISO 224122008

量測數據

Size (粒徑)

Zeta Potential (界達電位)

測試範圍

1-10000nm(與樣品有關)

-500mV ~ +500mV

濃度範圍

0.1mg/ml­ ~ 100mg/ml(與樣品有關)

電泳遷移率範圍

>  ±20μm.cm/V.s

最高電導率

200mS/cm (取決於樣品)

準確性誤差

1%(國家標準樣品D50值)

10%(標準物質)

重複性誤差

1%(國家標準樣品D50值)

10%標準物質

雷射光源

半導體雷射,λ= 635nm P = 1 ~ 40mW (可調)

偵測器

進口光電倍增管(PMT

散射角

90o

18o

樣品槽體積

10mm x 10mm x 40mm, 1 ~ 4mL

10mm x 10mm x 60mm, 1mL

測試溫度

5-45 ℃(溫控5-90℃,精確度:0.1℃)

測試速度

< 3 Min

數字相關器參數

規格型號 : HA1024

自相關通道 : 892

基線通道 : 4

物理通道數 : 5000

延遲時間 : 1us ~ 10ms

規格型號 : HA1024

自相關通道 : 892

基線通道 :  -

物理通道數 :  -

延遲時間 : 1us ~ 10ms

體積 (W x D x H)

560 × 270 × 170 (mm)

重量

20kg

Winner 901 奈米粒徑電位分析儀同時具有Zeta電位及奈米粒徑的分析測試功能,適用於多種不同的奈米乳液、懸浮液膠體等的粒徑及表面電位測量,能廣泛應用於精密化工產業、奈米材料、表面活性、低聚物等的研發生產品管,同時也是油墨、醫藥製劑等產業產品研發及品管檢測儀器。

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