• 全自動乾溼一體粒徑分析儀 Winner 2308

全自動乾溼一體粒徑分析儀

2308全自動系列(量測範圍為0.01um ~ 2000um),為一款乾、濕一體的雷射粒徑分析儀,切換乾溼便利,符合ISO-13320之測試規範。
型號 : Winner 2308

量測原理:

雷射光觸及顆粒將產生光散射,大顆粒產生小角度散射,小顆粒產生大角度散射,利用散射光的角度與強度,與顆粒大小的依存關係,雷射粒徑分析儀以高速發射,環狀多角度接收器收集散射光訊號,配合軟體擬合粒徑分佈。

Mie理論可藉由輸入顆粒與介質的折射/吸收值,修正誤差。2308系列符合IS-13320之測試規範。


儀器結構圖:


儀器測試操作界面:

Ⅰ控制界面

運行軟件,進入控制系統界面點擊模式可選擇進入人工模式或自動模式。控制功能檢查如下表介紹。自動模式支持智能一鍵操作,點擊“自動測試”,按提示加入樣品後,其他所有操作自動完成。不僅減輕了測試人員工作量,而且消除了人為因素的干擾。

濕法 / 乾法控制介面圖

                                               濕法控制介面圖                                                              乾法控制介面圖



                                               


Ⅱ測試分析視圖

測試完畢後,根據需要選取記錄生成平均結果,系統形成分析記錄。自動模式下測試時,不需進行數據處理,系統自動形成並保存綜合分析過的測試記錄





Winner2308分析視圖


硬體(主機+進樣器) :

規格型號

Winner2308A

Winner2308B

執行標準

ISO 13320-1:1999GB/T19077.1-2308Q/0100JWN001-2013

測試範圍

濕法0.01-2000μm

乾法1-2000μm

濕法0.01-1200μm

乾法1-1200μm

通道數

濕法127      乾法100

濕法120      乾法97

準確性誤差

<1%(國家標準樣品D50值)

重複性誤差

<1%(國家標準樣品D50值)

激光器參數

主激光源:高性能He-Ne激光器λ= 632.8nmp> 2.0mW

輔助激光源:藍光雷射,λ= 405nm; p> 2mW

超音波

±1ºC

±1ºC

攪拌

AC110/220V±10%, 50Hz

AC110/220V±10%, 50Hz

循環

810*650*660

810*650*660

樣品池

1210*740*1410

1210*740*1410

操作模式

全自動操作模式

自動對中系統

全自動對中系統,對中精度高達0.2微米

測試速度

<2min/

體積

主機:1190mm×380mm×560mm 濕式進樣器: 442mm×280mm×342mm

重量

60Kg+15Kg

軟體 :

分析模式

包括自由分佈、R-R分佈和對數正態分佈、按目分級統計模式等,滿足不同行業對被測樣品粒度統計方式的不同要求

統計方式

體積分佈和數量分佈,以滿足不同行業對於粒度分佈的不同統計方式

統計比較

可針對多條測試結果進行統計比較分析,可明顯對比不同批次樣品、加工前後樣品以及不同時間測試結果的差異,對工業原料質量控制具有很強的實際意義

自定義分析

用戶自定義分析參數,根據粒徑求百分比、根據百分比求粒徑或根據粒徑區間求百分比,以滿足不同行業對粒度測試的表徵方式

測試報告

測試報告可導出WordExcel、圖片(Bmp)和文本(Text)等多種形式的文檔。

多語言支持

中英文語言界面支持,還可根據用戶要求嵌入其他語言界面。

智能操作

具有智能操作模式,可以自動控制進水、分散、測試等步驟,不但減輕測試人員的工作量,而且由於無人為因素干擾,測試結果的重複性更好。

1. 乾溼一體化設計:2308系列將濕法與乾法測試集成於一體,成功解決了乾濕法一體化的各項技術

                                     問題,能夠實現乾濕一鍵切換,使用快捷方便,是高端顆粒測試研究的最佳

                                     選擇。

2. 全內置分散系統:使用大功率循環泵,對管路進行優化設計,使整體控制協調性達到極高水平,

                                     有效的防止了大顆粒的二次沉澱。

3. 無約束自由擬合技術:運用獨創的無約束自由擬合技術,粒度分析不受任何函數的限制,

                                             可真實反映顆粒的分佈狀態。

4. 微納專利光路設計:採用會聚光傅立葉變換專利技術,使散射光不受透鏡孔徑限制;採用雙譜面

                                         光路設計,有效擴大測量範圍至2000微米;獨創雙激光正交光路使用半導體

                                         輔助激光器測量側向散射45度至141度,將測量範圍進一步擴展。

1. D10:顆粒累積分佈為10%的粒徑,即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的10%。

2. D50:顆粒累積分佈為50%的粒徑。

3. D90:顆粒累積分佈為90%的粒徑。

4. DAV:顆粒群的平均粒徑。

5. S/V:體積比表面積;單位體積顆粒的表面積。

6. 粒徑分析圖表說明:

橫向是粒徑值,該數值呈對數分佈。

左列是體積累計百分比,對應的是上升趨勢的曲線圖。

右列是某一區間的體積百分比,對應的是直方圖或起伏的曲線圖。

數據列表是與分析圖表相對應的測試結果。

2308-report.jpg


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